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Sachverständige für Gutachten, Materialuntersuchungen, Werkstoffanalytik und Schadenanalytik, Beratung zur schweißtechnischen Verarbeitung von Werkstoffen, Schadensuntersuchung und Schadensgutachten sowie Materialprüfungen im akkreditiertem Labor, Oberflächenanalytik, Qualitätsmanagementberatung, Mitarbeiterschulung, Schweißtechnologieberatung, Asbestuntersuchung, REM, EDX, Ti-Implantate, Dauerbruch, Schadensanalyse, Bruchflächenuntersuchung, Schwinglinien
Nanoanalytics
Freitag 25. Juni 2010
Am 23. und 24.09.2010 führt die Firma Nanoanalytics ein Seminar zur Thematik "Moderne Oberflächenanalytik" in Münster durch. In beiliegendem Flyer erhalten Sie weitere Informationen.
Wir würden uns sehr über Ihre Teilnahme freuen. Bei Fragen zur Anmeldung kontaktieren Sie bitte Frau Dr. Horn-Samode...
Fest-Kolloquium in Berlin
Montag 17. Mai 2010
Am 15. und 16. Juni 2010 wird anläßlich des Jubiläums "50 Jahre Bruker" ein Fest-Kolloquium in Berlin stattfinden. Die IGMHS beteiligt sich mit einem Vortrag über "Vergleichende Betrachtungen zum Einsatz von XFlash Detektoren in der Laboranalytik".
neuer Detektor
Mittwoch 17. Februar 2010
 
Die IGMHS hat durch den Kauf eines zweiten peltierelementgekühlten EDX-Detektors der Fa. Bruker ihre Prozeßsicherheit im Rem-Labor verbessert. Mit den nunmehr zwei REM (einem Großkammer- und einem Kleinkammer-REM) sowie zwei x-Flash-Detektoren, die Linienlagen bis 123 eV auflösen können, hat die Lei...
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